Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 2111 | 943 |
h-indeks | 20 | 13 |
i10-indeks | 36 | 16 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko7 artykułów
7 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Henning HeuerProf. Dr.-Ing., TU Dresden, Fraunhofer IKTS DresdenZweryfikowany adres z ikts.fraunhofer.de
- Bernd KöhlerSenior Scientist, Matrial Diagnostics, Fraunhofer IKTSZweryfikowany adres z ikts.fraunhofer.de
- Klaus-Juergen WolterProfessor für Verfahrenstechnologie der Elektronik, TU DresdenZweryfikowany adres z tu-dresden.de
- Udo NetzelmannFraunhofer Institute for Nondestructive TestingZweryfikowany adres z izfp.fraunhofer.de
- Gerd DobmannScience NDTZweryfikowany adres z dozent.di-uni.de
- Martin OppermannTechnische Universität DresdenZweryfikowany adres z zmp.et.tu-dresden.de
- Issa HakimPh.DZweryfikowany adres z purdue.edu
- Kopycinska Mueller, MalgorzataIKTS-MDZweryfikowany adres z ikts-md.fraunhofer.de
- Jürgen SchreiberFraunhofer-Institut IKTS-MDZweryfikowany adres z ikts-extern.fraunhofer.de
- Leonard J. BondProfessor, Iowa State UniversityZweryfikowany adres z iastate.edu
Obserwuj
Norbert G Meyendorf
Professor Materials Engineering, University of Dayton
Zweryfikowany adres z udayton.edu