Kuanchen Xiong

Cytowane przez

	Wszystkie	Od 2019
Cytowania	153	137
h-indeks	7	6
i10-indeks	4	4

2016201720182019202020212022202320244 12 14 36 51 16 17 3

Dostęp publiczny

Wyświetl wszystko

11 artykułów

4 artykuły

dostępne

niedostępne

Objęte finansowaniem

Współautorzy

Lei LiCornell UniversityZweryfikowany adres z cornell.edu
Matthias WietstruckIHPZweryfikowany adres z ihp-microelectronics.com
Dr. -Ing Mehmet KaynakDr. -IngZweryfikowany adres z ti.com
Asher MadjarTechnionZweryfikowany adres z technion.ac.il
Nicholas C. StrandwitzAssociate Professor, Materials Science and Engineering, Lehigh UniversityZweryfikowany adres z lehigh.edu
Marco FarinaUniversità Politecnica delle MarcheZweryfikowany adres z univpm.it
Xin JinAnokiwave Inc, Lehigh UniversityZweryfikowany adres z lehigh.edu
Georg S. DuesbergChair of Sensortechnology , Universität der Bundeswehr, MunichZweryfikowany adres z unibw.de
Qiushi GuoAssistant Professor, CUNY Advanced Science Research CenterZweryfikowany adres z gc.cuny.edu
Fengnian XiaProfessor of Electrical Engineering, Yale UniversityZweryfikowany adres z yale.edu
Cheng LiElectrical Engineering, Yale UniversityZweryfikowany adres z yale.edu
Kenji WatanabeNational Institute for Materials ScienceZweryfikowany adres z nims.go.jp
Marco LiskerIHPZweryfikowany adres z ihp-microelectronics.com
Peide YeRichard J. and Mary Jo Schwartz Professor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityZweryfikowany adres z purdue.edu
Niall McEvoyScience Foundation Ireland (formerly Trinity College Dublin)Zweryfikowany adres z tcd.ie
Xiangfeng DuanUniversity of California, Los AngelesZweryfikowany adres z chem.ucla.edu
Zhaoyang Lin (林朝阳)Assistant Professor, Tsinghua UniversityZweryfikowany adres z mail.tsinghua.edu.cn
Xiaolong ChenDepartment of Electrical and Electronic Engineering, Southern University of Science and TechnologyZweryfikowany adres z sustech.edu.cn
T.TaniguchiNational Institute for Materials ScienceZweryfikowany adres z nims.go.jp
Ji-Hoon ParkMassachusetts Institute of Technology(MIT)Zweryfikowany adres z mit.edu

Obserwuj

Kuanchen Xiong

Broadcom Wireless Semiconductor Division, Cornell University, Lehigh University

Zweryfikowany adres z broadcom.com

RF front end module PA microwave transistors devices beyond CMOS 2D materials


Tytuł Sortuj wg cytatów Sortuj wg roku Sortuj wg tytułu	Cytowane przez Cytowane przez	Rok
Wafer-Scale Fabrication of Recessed-Channel PtSe₂ MOSFETs With Low Contact Resistance and Improved Gate Control L Li, K Xiong, RJ Marsell, A Madjar, NC Strandwitz, JCM Hwang, ... IEEE Transactions on Electron Devices 65 (10), 4102-4108, 2018	37	2018
Black phosphorus high-frequency transistors with local contact bias C Li, K Xiong, L Li, Q Guo, X Chen, A Madjar, K Watanabe, T Taniguchi, ... ACS nano 14 (2), 2118-2125, 2020	24	2020
CMOS-compatible batch processing of monolayer MoS2 MOSFETs K Xiong, H Kim, RJ Marstell, A Göritz, C Wipf, L Li, JH Park, X Luo, ... Journal of Physics D: Applied Physics 51 (15), 15LT02, 2018	22	2018
Large-Scale Fabrication of Submicrometer-Gate-Length MOSFETs With a Trilayer PtSe₂ Channel Grown by Molecular Beam Epitaxy K Xiong, M Hilse, L Li, A Göritz, M Lisker, M Wietstruck, M Kaynak, ... IEEE Transactions on Electron Devices 67 (3), 796-801, 2020	21	2020
Scanning microwave microscopy of buried CMOS interconnect lines with nanometer resolution X Jin, K Xiong, R Marstell, NC Strandwitz, JCM Hwang, M Farina, A Göritz, ... International Journal of Microwave and Wireless Technologies 10 (5-6), 556-561, 2018	9	2018
Improvement by Channel Recess of Contact Resistance and Gate Control in Large-Scale Spin-Coated MoS₂ MOSFETs K Xiong, L Li, RJ Marstell, A Madjar, NC Strandwitz, JCM Hwang, Z Lin, ... IEEE Electron Device Letters 39 (9), 1453-1456, 2018	8	2018
Continuous-wave and transient characteristics of phosphorene microwave transistors X Luo, K Xiong, JCM Hwang, Y Du, PD Ye 2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 1-3, 2016	7	2016
Phosphorene FETs—Promising transistors based on a few layers of phosphorus atoms K Xiong, X Luo, JCM Hwang 2015 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced …, 2015	7	2015
Inverted scanning microwave microscopy for nanometer-scale imaging and characterization of platinum diselenide G Fabi, X Jin, JCM Hwang, CH Joseph, E Pavoni, L Li, K Xiong, Y Ning, ... 2019 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 1115-1117, 2019	5	2019
Wafer-scale material-device correlation of tellurene MOSFETs K Xiong, L Li, RJ Marstell, A Madjar, NC Strandwitz, JCM Hwang, G Qiu, ... 2018 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced …, 2018	4	2018
Black phosphorus MOSFET for future-generation thin-film electronics capable of microwave operation K Xiong, C Li, L Li, Q Guo, K Watanabe, T Taniguchi, A Madjar, F Xia, ... 2019 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 1104-1106, 2019	3	2019
Large-Scale Fabrication of RF MOSFETs on Liquid-Exfoliated MoS₂ K Xiong, L Li, A Madjar, JCM Hwang, Z Lin, Y Huang, X Duan, A Göritz, ... 2018 48th European Microwave Conference (EuMC), 1105-1108, 2018	3	2018
Scanning microwave microscopy of aluminum CMOS interconnect lines buried in oxide and water X Jin, K Xiong, R Marstell, NC Strandwitz, JCM Hwang, M Farina, A Göritz, ... 2017 47th European Microwave Conference (EuMC), 975-977, 2017	2	2017
Temperature-Dependent RF Characteristics of Al₂O₃-Passivated WSe₂ MOSFETs K Xiong, X Zhang, L Li, F Zhang, B Davis, A Madjar, A Göritz, M Wietstruck, ... IEEE Electron Device Letters 41 (7), 1134-1137, 2020	1	2020
High-Frequency Tellurene MOSFETs with Biased Contacts K Xiong, G Qiu, Y Wang, L Li, A Göritz, M Lisker, M Wietstruck, M Kaynak, ... 2021 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 319-322, 2021		2021
Quantitative Scanning Microwave Microscopy of Few-layer Platinum Diselenide X Wang, K Xiong, L Li, JCM Hwang, X Jin, G Fabi, M Farina, O Hartwig, ... 2020 50th European Microwave Conference (EuMC), 987-990, 2021		2021
Design, Fabrication, Characterization and Modeling of CMOS-Compatible PtSe2 MOSFETs K Xiong Lehigh University, 2020		2020
Phosphorene Transistors-a Brief Review K Xiong, X Luo, JCM Hwang Electrochemical Society Meeting Abstracts 229, 1308-1308, 2016		2016

Nie można teraz wykonać tej operacji. Spróbuj ponownie później.

Prace 1–18

Cytowania rocznie

Powielone cytowania

Scalone cytowania

Dodaj współautorówWspółautorzy

Obserwuj

Cytowane przez

Współautorzy