Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2018 | |
---|---|---|
Cytowania | 2522 | 992 |
h-indeks | 19 | 15 |
i10-indeks | 25 | 19 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko6 artykułów
2 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Paul McEuenProfessor of Physics, Cornell UniversityZweryfikowany adres z cornell.edu
Rob IlicNational Institute of Standards and TechnologyZweryfikowany adres z nist.gov
Arend van der ZandeDepartment of Mechanical Science and Engineering, University of Illinois at Urbana ChampaignZweryfikowany adres z illinois.edu
Vivekananda P AdigaQualcommZweryfikowany adres z qti.qualcomm.com
Scott S VerbridgeAssociate Professor, Virginia Tech - Wake Forest School of Biomedical Engineering and SciencesZweryfikowany adres z vt.edu
Joshua W. KevekLab Manager/Fault Isolation Engineer, IntelZweryfikowany adres z cornell.edu
Carlos S. Ruiz-VargasVoltaLabs.comZweryfikowany adres z cornell.edu
Charles M. MarcusMaterials Science and Engineering and Department of Physics, University of WashingtonZweryfikowany adres z uw.edu
Ioannis KymissisKenneth Brayer Professor of Electrical Engineering, Columbia UniversityZweryfikowany adres z columbia.edu
Menyoung LeeCornell UniversityZweryfikowany adres z cornell.edu
Alison L HillAssistant Professor, Institute for Computational Medicine, Johns Hopkins UniversityZweryfikowany adres z jhmi.edu
Thomas AlavaStaff scientist, LETI-CEA, Laboratoire Composants Micro-CapteursZweryfikowany adres z cea.fr
Andrew BorthwickPrincipal Scientist, AmazonZweryfikowany adres z amazon.com
Stephen AshAmazon, AWS AIZweryfikowany adres z amazon.com