Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 107 | 107 |
h-indeks | 4 | 4 |
i10-indeks | 2 | 2 |
Współautorzy
- Hyoungshick KimSungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- Jun Ho HuhSamsung Research, Samsung ElectronicsZweryfikowany adres z samsung.com
- Muhammad Ejaz AhmedCSIRO's Data61Zweryfikowany adres z data61.csiro.au
- Il-Youp KwakChung-Ang UniversityZweryfikowany adres z cau.ac.kr
- William AikenUniversity of OttawaZweryfikowany adres z uottawa.ca
- Sangwook BaeCapeZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Yongdae KimProfessor of Electrical Engineering, KAIST, KoreaZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Simon S. WooAssociate Professor, Sungkyunkwan University (SKKU)Zweryfikowany adres z g.skku.edu
- JUSOP CHOISungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- Beomseok OhKAISTZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Junho AhnKAIST SysSecZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Mincheol SonSchool of Electrical Engineering, KAISTZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- CheolJun ParkSchool of Electrical Engineering, KAISTZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Nils Ole TippenhauerFaculty, CISPA Helmholtz Center for Information SecurityZweryfikowany adres z cispa.de
- Min Suk KangKAISTZweryfikowany adres z kaist.ac.kr