Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1820 | 828 |
h-indeks | 18 | 15 |
i10-indeks | 19 | 17 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko0 artykułów
2 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Siddharth RajanElectrical and Computer Engineering, Ohio State UniversityZweryfikowany adres z ece.osu.edu
- Digbijoy NathAssociate Professor at Indian Institute of ScienceZweryfikowany adres z iisc.ac.in
- Sriram KrishnamoorthyUniversity of California, Santa BarbaraZweryfikowany adres z ucsb.edu
- Fatih AkyolYıldız Teknik ÜniversitesiZweryfikowany adres z yildiz.edu.tr
- Sanyam BajajIntel CorporationZweryfikowany adres z intel.com
- Zhichao YangDepartment of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State UniversityZweryfikowany adres z ece.osu.edu
- Wu Lu, ProfessorThe Ohio State UniversityZweryfikowany adres z osu.edu
- Masihhur LaskarUniversity of Wisconsin-MadisonZweryfikowany adres z wisc.edu
- Emre GÜRProf., Department of Physics, Faculty of Science, Eskişehir Osmangazi University, 26480, MeşelikZweryfikowany adres z ogu.edu.tr
- Jacob B KhurginJohns Hopkins UniversityZweryfikowany adres z jhu.edu
- Omor ShoronSoftware Reaserch Engineer (Compact Device Modeling), Intel CorporationZweryfikowany adres z intel.com
- Roberto C. MyersProfessor of Materials Science, Electrical Engineering, and Physics, The Ohio State UniversityZweryfikowany adres z osu.edu
- Nitin P. PadtureOtis E. Randall University Professor, Brown UniversityZweryfikowany adres z brown.edu
- Yuh-Renn WuProfessor of Electrical Engineering, National Taiwan UniversityZweryfikowany adres z ntu.edu.tw
- Stacia KellerUniversity of California Santa BarbaraZweryfikowany adres z ece.ucsb.edu
- Aaron ArehartAssistant Research Professor of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State UniversityZweryfikowany adres z osu.edu
Obserwuj
PIL SUNG PARK
Technology Development Center, Samsung Electronics
Zweryfikowany adres z osu.edu