Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 2849 | 1343 |
h-indeks | 29 | 16 |
i10-indeks | 82 | 41 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko7 artykułów
4 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Rocchi SantinaProfessor of Electronics, Siena UniversityZweryfikowany adres z dii.unisi.it
- Marina mazzoniricercatore cnr , ifacZweryfikowany adres z ifac.cnr.it
- Mara BruzziFirenzeZweryfikowany adres z unifi.it
- Domenico Lo PrestiUniversità di Catania - Dipartimento di Fisica ed Astronomia "Ettore Majorana" - Istituto NazionaleZweryfikowany adres z unict.it
- Noemi ProiettiRicercatoreZweryfikowany adres z cnr.it
- Cristiano RiminesiNational Research CouncilZweryfikowany adres z cnr.it
- Simona GranchiUniversità di Firenze- DINFOZweryfikowany adres z unifi.it
- F. Levent DegertekinProfessor, Georgia Institute of Technology, Atlanta, USAZweryfikowany adres z gatech.edu
- Goksen Goksenin YaraliogluAssociated Professor of Electrical Engineering, Ozyegin UniversityZweryfikowany adres z ozyegin.edu.tr
- Guido TociIstituto Nazionale di Ottica, Consiglio Nazionale delle RicercheZweryfikowany adres z ino.it
- Nicola MacchioniCNR IBEZweryfikowany adres z cnr.it
- Sabrina PalantiCNR IBEZweryfikowany adres z ibe.cnr.it
- Massimiliano PieracciniUniversity of FlorenceZweryfikowany adres z unifi.it
Obserwuj
Lorenzo Capineri
Professor of Electronics, phD Non Destructive Testing , University of Florence
Zweryfikowany adres z unifi.it - Strona główna