Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1621 | 558 |
h-indeks | 20 | 12 |
i10-indeks | 33 | 13 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko2 artykuły
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- John L. VolakisProfessor, Florida International UniversityZweryfikowany adres z fiu.edu
- Chi-Chih ChenOhio State University Electrical and Comupter Engineering DepartmentZweryfikowany adres z osu.edu
- John W. HalloranDepartment of Materials Science and Engineering, University of MichiganZweryfikowany adres z umich.edu
- Stavros KoulouridisUniversity of Patras, Florida International UniversityZweryfikowany adres z upatras.gr
- Bas, Umit CelalettinAppleZweryfikowany adres z usc.edu
- Noboru KikuchiUniversity of Michigan, Toyota Central R&D LabsZweryfikowany adres z umich.edu
- Safa Salmanohio state universityZweryfikowany adres z osu.edu
- Zachary WingZweryfikowany adres z acmtucson.com
- Farooq KhanExiumZweryfikowany adres z exium.net
- Hongyu ZhouSamsung Research AmericaZweryfikowany adres z samsung.com
- J. Brian FowlkesProfessor of Radiology and Biomedical Engineering, University of MichiganZweryfikowany adres z umich.edu
- Paul L CarsonBRS Collegiate Professor of Radiology, University of MichiganZweryfikowany adres z umich.edu
- Kubilay SertelAssociate Professor, Electrical and Computer Engineering, ElectroScience Laboratory, The Ohio StateZweryfikowany adres z ece.osu.edu
- Ugur OlgunSnap IncZweryfikowany adres z snap.com
- Behzad BiglarbegianUniversity of WaterlooZweryfikowany adres z maxwell.uwaterloo.ca