Obserwuj
Dariusz Klepacki
Dariusz Klepacki
Zweryfikowany adres z prz.edu.pl
Tytuł
Cytowane przez
Cytowane przez
Rok
Nonlinear discrete elements in electro-thermal model of thick-film structure
G Blad, D Klepacki, J Potencki
28th International Spring Seminar on Electronics Technology: Meeting the …, 2005
72005
Analysis of electromagnetic field distribution generated in an semi-anechoic chamber in aspect of RF harvesters testing
W Sabat, D Klepacki, K Kamuda, K Kuryło
IEEE Access 9, 92043-92052, 2021
62021
Modelling of temperature field distribution in thick-film sensor structures
G Bła̧d, Z Hotra, D Klepacki, J Potencki
Proceedings of XXVI Conference of IMAPS Poland Chapter, Warszawa, 25-27, 109-112, 2002
62002
Wyższe harmoniczne prądu generowane przez kompaktowe fluorescencyjne źródła światła zasilane napięciem sinusoidalnym i odkształconym
K Kuryło, W Sabat, D Klepacki
Pomiary Automatyka Kontrola 60, 2014
52014
Application of operational method in analysis of electromagnetic couplings in mutual coupled path systems of planar structures
W Kalita, W Sabat, D Klepacki, K Kamuda
2008 2nd Electronics System-Integration Technology Conference, 1107-1110, 2008
52008
Simulation of transient thermal states in layered electronic microstructures
W Kalita, D Klepacki, M Węglarski
Microelectronics Reliability 48 (7), 1021-1026, 2008
52008
„Simulation of Temperature Distribution in Thick-Film Sensors”
G Błąd, D Klepacki, J Potencki
Proceedings of 8th International Symposium For Design And Technology In …, 2002
52002
Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez lampy LED
K Kuryło, K Kamuda, D Klepacki, W Sabat, D Kielar
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering, 2017
42017
Metodyka pomiaru zaburzeń elektromagnetycznych generowanych przez układy awioniki w statkach powietrznych
W Sabat, K Kuryło, D Klepacki, K Kamuda
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering …, 2017
42017
Analiza statystyczna wpływu odbiorników nieliniowych małej mocy na odkształcenie napięcia zasilającego
K Kamuda, D Klepacki, K Kuryło, W Sabat
Przegląd Elektrotechniczny 91 (8), 19-22, 2015
42015
Temperature field simulation of thick-film microcircuits using electro-thermal analogy
G Blad, W Kalita, D Klepacki, J Potencki, M Weglarski
2006 1st Electronic Systemintegration Technology Conference 2, 1261-1265, 2006
42006
Constructional and Technological Aspects of Temperature Fields in Thick-Film Gas Sensor Structures
D Klepacki
PhD dissertation, Lublin University of Technology, 2004
42004
Analysis of LED Lamps’ Sensitivity to Surge Impulse
W Sabat, D Klepacki, K Kamuda, K Kuryło
Electronics 11 (7), 1140, 2022
32022
Comparison of Emission Measurement Methods for Electromagnetic Disturbances in the Frequency Range from 30 MHz to 300 MHz for LED Lamps According to EN 55015
K Kamuda, D Klepacki, K Kuryło, W Sabat
Periodica Polytechnica Electrical Engineering and Computer Science 63 (2 …, 2019
32019
Analysis of propagation process of conductive electromagnetic disturbances in AC/DC low power converter
W Sabat, D Klepacki, K Kuryło, K Kamuda
2017 21st European Microelectronics and Packaging Conference (EMPC …, 2017
32017
Modelling of dynamic temperature states in layer microelectronics systems
G Blad, W Kalita, D Klepacki, F Rozak, M Weglarski, R Smusz
2006 29th International Spring Seminar on Electronics Technology, 245-250, 2006
32006
Modelowanie pól temperatury w grubowarstwowych strukturach sensorowych
G Błąd, D Klepacki
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki, 39-42, 2002
32002
Comparison of Two Measurement Methods for the Emission of Radiated Disturbances Generated by LED Drivers
K Kuryło, W Sabat, D Klepacki, K Kamuda
Energies 15 (24), 9372, 2022
22022
Measuring Methodology of Conducted Disturbances Generated by Avionic Systems in Aircrafts
W Sabat, D Klepacki, K Kuryło, K Kamuda
Methods and Techniques of Signal Processing in Physical Measurements, 294-305, 2019
22019
Three Dimensional RC Model of Heat Transfer in Thick-Film Multilayer Structure
G Blad, W Kalita, D Klepacki, M Weglarski
2006 29th International Spring Seminar on Electronics Technology, 241-244, 2006
22006
Nie można teraz wykonać tej operacji. Spróbuj ponownie później.
Prace 1–20