Obserwuj
Piotr D. Szyperski
Piotr D. Szyperski
Wrocław University of Science and Technology
Zweryfikowany adres z pwr.edu.pl
Tytuł
Cytowane przez
Cytowane przez
Rok
Comparative study on fractal analysis of interferometry images with application to tear film surface quality assessment
PD Szyperski
Applied optics 57 (16), 4491-4498, 2018
52018
New approaches to fractal dimension estimation with application to gray-scale images
PD Szyperski, DR Iskander
IEEE Access 8, 1383-1393, 2019
32019
A novel phase-based approach to tear film surface quality assessment using lateral shearing interferometry
P Szyperski, DR Iskander
Computer Information Systems and Industrial Management: 14th IFIP TC 8 …, 2015
12015
Exploiting the phase domain of lateral shearing interferometry in measurements of tear film surface quality
DH Szczesna-Iskander, P Szyperski
7th European / 1st World Meeting in Visual and Physiological Optics, 345-348, 2014
2014
Nie można teraz wykonać tej operacji. Spróbuj ponownie później.
Prace 1–4