Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1405 | 1147 |
h-indeks | 10 | 7 |
i10-indeks | 10 | 6 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko7 artykułów
1 artykuł
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Andreas F. MolischProfessor of Electrical Engineering, University of Southern CaliforniaZweryfikowany adres z usc.edu
- Shengqian HanBeihang University (BUAA)Zweryfikowany adres z buaa.edu.cn
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaZweryfikowany adres z samsung.com
- Linsheng LiHuawei FinlandZweryfikowany adres z huawei.com
- Katsuyuki HanedaAssociate Professor, Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto UniversityZweryfikowany adres z aalto.fi
- Seun SangodoyinAssistant Professor, ECE, Georgia Institute of TechnologyZweryfikowany adres z gatech.edu
- Chenwei WangPrincipal Research Engineer, DOCOMO Innovations Inc., Palo Alto, CaliforniaZweryfikowany adres z uci.edu
- Ozgun Y. BursaliogluDocomo InnovationsZweryfikowany adres z docomoinnovations.com
- Giuseppe CaireProfessor, Technical University of Berlin, Germany, and Professor of Electrical Engineering (onZweryfikowany adres z tu-berlin.de
- Nadisanka RupasingheSamsung Research AmericaZweryfikowany adres z samsung.com
- Hao FengIntel LabsZweryfikowany adres z intel.com
- Pan TangBeijing University of Posts and TelecommunicationsZweryfikowany adres z bupt.edu.cn
- Bas, Umit CelalettinAppleZweryfikowany adres z usc.edu