Vipul Chaudhary

2013201420152016201720182019202020212022202320245 8 5 18 14 21 9 11 4 4 5 1

Subhadeep MukhopadhyayIntel; Former Principal Engineer in TSMC; Former Ph.D. student, Indian Institute Of TechnologyZweryfikowany adres z intel.com
Souvik MahapatraProfessor, EE Dept, IIT Bombay (Fellow of IEEE, INSA, IASc, INAE)Zweryfikowany adres z ee.iitb.ac.in

Vipul Chaudhary

Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Bombay

Zweryfikowany adres z iitb.ac.in


Tytuł Sortuj wg cytatów Sortuj wg roku Sortuj wg tytułu	Cytowane przez Cytowane przez	Rok
HKMG process impact on N, P BTI: Role of thermal IL scaling, IL/HK integration and post HK nitridation K Joshi, S Hung, S Mukhopadhyay, V Chaudhary, N Nanaware, ... 2013 IEEE international reliability physics symposium (IRPS), 4C. 2.1-4C. 2.10, 2013	64	2013
Trap generation in IL and HK layers during BTI/TDDB stress in scaled HKMG N and P MOSFETs S Mukhopadhyay, K Joshi, V Chaudhary, N Goel, S De, RK Pandey, ... 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, GD. 3.1-GD. 3.11, 2014	41	2014

Nie można teraz wykonać tej operacji. Spróbuj ponownie później.

Prace 1–2

Cytowania rocznie