Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 2377 | 1792 |
h-indeks | 16 | 15 |
i10-indeks | 17 | 17 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko4 artykuły
2 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Won Jong YooProfessor of Sungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- Xiaochi Liu 刘晓迟School of Physics and Electronics, Central South UniversityZweryfikowany adres z csu.edu.cn
- Daeyeong LeeSamsumg ElectronicsZweryfikowany adres z samsung.com
- Min Sup ChoiDepartment of Materials Science and Engineering, Chungnam National UniversityZweryfikowany adres z cnu.ac.kr
- Huamin LiAssistant Professor, University at BuffaloZweryfikowany adres z buffalo.edu
- Ming Huang (黄明)University of Electronic Science and Technology of China; Nanyang Technological University.Zweryfikowany adres z uestc.edu.cn
- Rodney RuoffThe IBS CMCM, Dept. of Chemistry, Dept. of MS&ESchool of Energy and ChEng,Zweryfikowany adres z unist.ac.kr
- James C. HoneDepartment of Mechanical Engineering, Columbia UniversityZweryfikowany adres z columbia.edu
- mandakini biswalPost proctorial Research Fellow at CMCM, UNIST, South KoreaZweryfikowany adres z ibs.re.kr
- Changsik KimSKKU Advanced Institute of Nano Technology, Sungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- T.TaniguchiNational Institute for Materials ScienceZweryfikowany adres z nims.go.jp
- Inyong MoonSungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- Alan SeabaughProfessor of Electrical Engineering, University of Notre DameZweryfikowany adres z nd.edu
- Faisal AhmedAalto UniveristyZweryfikowany adres z aalto.fi