Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 419 | 148 |
h-indeks | 11 | 6 |
i10-indeks | 13 | 5 |
Współautorzy
- Waleed KhalilProfessor of Electrical Engineering, The Ohio State UniversityZweryfikowany adres z osu.edu
- James WilsonUS Army Research LaboratoryZweryfikowany adres z mail.mil
- John L. VolakisProfessor, Florida International UniversityZweryfikowany adres z fiu.edu
- Oren EliezerSamsung SemiconductorZweryfikowany adres z ieee.org
- Slim BoumaizaUniversity of WaterlooZweryfikowany adres z uwaterloo.ca
- Elias A. AlwanFlorida International UniversityZweryfikowany adres z fiu.edu
- Farooq KhanExiumZweryfikowany adres z exium.net
- Marian VerhelstMicas - ESAT - KU Leuven, BelgiumZweryfikowany adres z esat.kuleuven.be
- Kubilay SertelAssociate Professor, Electrical and Computer Engineering, ElectroScience Laboratory, The Ohio StateZweryfikowany adres z ece.osu.edu
- Paolo CarboneUniversità degli Studi di Perugia - ItalyZweryfikowany adres z unipg.it
- Robert (Bob) DanielsCTO, Cobalt Solutions, Inc.Zweryfikowany adres z cobaltsolutions.net
- Mohammed IsmailProfessor and Chair, Electrical and Computer Engineering Department, Wayne State UniversityZweryfikowany adres z wayne.edu
- Jianping GuoSun Yat-sen UniversityZweryfikowany adres z mail.sysu.edu.cn
- Rama VenkatasubramanianCadence Design Systems, Texas Instruments, Univ of Texas at Dallas, REC Trichy (NITT)Zweryfikowany adres z ieee.org
- Murtaza AliUhnder, Inc.Zweryfikowany adres z ieee.org
- Dr. musrrat aliKing Faisal University, Kingdom of Saudi ArabiaZweryfikowany adres z kfu.edu.sa
- James W. DavisProfessor of Computer Science, Ohio State UniversityZweryfikowany adres z cse.ohio-state.edu
Obserwuj