Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 813 | 450 |
h-indeks | 17 | 13 |
i10-indeks | 21 | 18 |
Współautorzy
- Cheol Seong HwangProfessor, Department of Materials Science and Engineering, Seoul National UniversityZweryfikowany adres z snu.ac.kr
- Byung Joon ChoiSeoul National University of Science and TechnologyZweryfikowany adres z seoultech.ac.kr
- Gun Hwan KimAssociate Professor, Yonsei UniversityZweryfikowany adres z yonsei.ac.kr
- Woongkyu LeeSoongsil UniversityZweryfikowany adres z ssu.ac.kr
- Seong Keun KimKorea Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z kist.re.kr
- Jeong Hwan HanSeoul National University of Science and Technology (SEOULTECH)Zweryfikowany adres z seoultech.ac.kr
- Deok-Yong ChoJeonbuk National UniversityZweryfikowany adres z jbnu.ac.kr
- Kyung Min KimAssociate Professor, Department of Materials Science and Engineering, KAISTZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Yong Cheol ShinZweryfikowany adres z mit.edu
- Woojin JeonKyung Hee UniversityZweryfikowany adres z khu.ac.kr
- Jaeyeong HeoChonnam National UniversityZweryfikowany adres z jnu.ac.kr
- Min Hwan LeeAssociate Professor, Department of Mechanical Engineering, University of California, MercedZweryfikowany adres z ucmerced.edu
- Han Joon KimSeoul National UniversityZweryfikowany adres z snu.ac.kr
- Tae Joo ParkHanyang UniversityZweryfikowany adres z hanyang.ac.kr
- Andrew J. AdamczykAssistant Professor of Chemical Engineering at Auburn UniversityZweryfikowany adres z auburn.edu
- Jae Hyuck JangKorea Basic Science InstituteZweryfikowany adres z kbsi.re.kr
- Sang Young LeeIntel CorporationZweryfikowany adres z intel.com
Obserwuj
Taeyong Eom
Center for Thin Film Materials, Korea Research Institute of Chemical Technology
Zweryfikowany adres z krict.re.kr