Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1020 | 893 |
h-indeks | 18 | 17 |
i10-indeks | 24 | 20 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko6 artykułów
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Stuart SmithProfessor of Mechanical Engineering, UNC CharlotteZweryfikowany adres z uncc.edu
CHABUM LEETexas A&M UniversityZweryfikowany adres z tamu.edu
Ericka HerazoDocente ITMZweryfikowany adres z correo.itm.edu.co
Joshua TarbuttonAssociate Professor of Mechanical Engineering UNCC, CPM, EPICZweryfikowany adres z uncc.edu
Hassan BouzahzahUniversité de LiègeZweryfikowany adres z uqat.ca
Bruno BussiereProfesseur, UQATZweryfikowany adres z uqat.ca
Matthew AndrewCarl Zeiss MicroscopyZweryfikowany adres z zeiss.com
Mostafa BenzaazouaMohammed VI Polytechnic University - GSMIZweryfikowany adres z um6p.ma
Andriy AndreyevCarl Zeiss X-Ray MicroscopyZweryfikowany adres z zeiss.com
Felix Hoyean KimNational Institute of Standards and TechnologyZweryfikowany adres z nist.gov
Shawn MoylanNational Institute of Standards and TechnologyZweryfikowany adres z nist.gov
Richard LeachUniversity of NottinghamZweryfikowany adres z nottingham.ac.uk
Abdellatif ElghaliMohammed IV Polytechnic UniversityZweryfikowany adres z um6p.ma
Artem AmirkhanovZweryfikowany adres z cg.tuwien.ac.at
Hrishikesh BaleUniversity of California, Berkeley/ Lawrence Berkeley Natl. LabZweryfikowany adres z lbl.gov
Dr. Martin KrenkelX-Ray System Development, Carl-Zeiss Industrielle Messtechnik GmbHZweryfikowany adres z gwdg.de
Ravikumar SanapalaZweryfikowany adres z berkeley.edu
Alaa ElwanyAssociate Professor - Texas A&M UniversityZweryfikowany adres z tamu.edu
Heebum ChunTexas A&M UniversityZweryfikowany adres z tamu.edu
Chris PeitschJohns Hopkins University Applied Physics LaboratoryZweryfikowany adres z jhuapl.edu
Obserwuj![Herminso Villarraga-Gómez](https://scholar.googleusercontent.com/citations?view_op=view_photo&user=Ojx4ZhEAAAAJ&citpid=64)
Herminso Villarraga-Gómez
ZEISS Industrial Quality Solutions, Wixom, MI, USA.
Zweryfikowany adres z zeiss.com - Strona główna