Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 3104 | 2678 |
h-indeks | 28 | 27 |
i10-indeks | 55 | 52 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko31 artykułów
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Gabriela HugProfessor, ETH ZürichZweryfikowany adres z ethz.ch
- Thierry Van CutsemFund of Scientific Research (FNRS) and University of Liege (Belgium)Zweryfikowany adres z uliege.be
- Uros MarkovicPower Systems Laboratory, ETH ZurichZweryfikowany adres z eeh.ee.ethz.ch
- Stavros KaragiannopoulosResearch & Digitalisation ManagerZweryfikowany adres z swissgrid.ch
- Ognjen StanojevPower Systems Laboratory, ETH ZurichZweryfikowany adres z eeh.ee.ethz.ch
- Evangelos VrettosR&D Manager, SwissgridZweryfikowany adres z swissgrid.ch
- Duncan CallawayUC BerkeleyZweryfikowany adres z berkeley.edu
- Gustavo ValverdeSenior Scientist and Lecturer at ETH ZürichZweryfikowany adres z eeh.ee.ethz.ch
- Davide FabozziLead Corporate Business Architect at TSCNET ServicesZweryfikowany adres z tscnet.eu
- Agnes Marjorie NakigandaTechnical University of DenmarkZweryfikowany adres z dtu.dk
- Nikos HatziargyriouNational Technical University of Athens, School of Electrical and Computer EngineeringZweryfikowany adres z power.ece.ntua.gr
- Damien ErnstProfessor of Electrical Engineering and Computer Science, ULiège - University of LiègeZweryfikowany adres z uliege.be
- Frédéric OlivierUniversity of LiègeZweryfikowany adres z ulg.ac.be
- Johannes SchifferBrandenburg University of Technology (BTU) & Fraunhofer IEGZweryfikowany adres z b-tu.de
- Zhongda ChuImperial College LondonZweryfikowany adres z imperial.ac.uk
- Christophe GeuzaineFull Professor, University of LiègeZweryfikowany adres z uliege.be
- Dr. Frédéric PlumierTractebelZweryfikowany adres z tractebel.engie.com
- Stefanos DelikaraoglouPost Doctoral Associate, MIT LIDSZweryfikowany adres z mit.edu
- Johanna VorwerkPower Systems Laboratory ETH ZurichZweryfikowany adres z dtu.dk
- Koji YamashitaPostdoc at UC RiversideZweryfikowany adres z ieee.org