Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1446 | 621 |
h-indeks | 14 | 12 |
i10-indeks | 17 | 13 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko2 artykuły
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Fabiano ChavesHead of Spectrum Standardization NAM at NokiaZweryfikowany adres z nokia.com
Erika Portela Lopes de AlmeidaNokia Bell LabsZweryfikowany adres z nokia.com
André Mendes CavalcanteSenior Research Engineer at EricssonZweryfikowany adres z ericsson.com
Sayantan ChoudhuryWireless ConsultantZweryfikowany adres z ieee.org
Klaus DopplerHead Connectivity Lab, Nokia Bell LabsZweryfikowany adres z nokia-bell-labs.com
Robson Domingos VieiraFAPEGZweryfikowany adres z ektrum.com
vicente angelo de sousa juniorFederal University of Rio Grande do NorteZweryfikowany adres z ufrn.edu.br
Rafael C. D. PaivaSenior researcher, INdT, BrazilZweryfikowany adres z indt.org.br
Sanket KalamkarQualcomm Technologies IncZweryfikowany adres z qti.qualcomm.com
Francois BaccelliINRIAZweryfikowany adres z inria.fr
Níbia Souza BezerraLuleå University of TechnologyZweryfikowany adres z ltu.se
Klaus PedersenNokiaZweryfikowany adres z nokia.com
Sofonias HailuZweryfikowany adres z nokia.com
Suresh KrishnanEricsson Zweryfikowany adres z ericsson.com
Luiz Felipe de Queiroz SilveiraUniversidade Federal do Rio Grande do Norte - UFRNZweryfikowany adres z dca.ufrn.br
Leandro Antonio PasaUniversidade Tecnológica Federal do ParanáZweryfikowany adres z utfpr.edu.br
José Alfredo Ferreira CostaProfessor, Universidade Federal do Rio Grande do Norte, UFRNZweryfikowany adres z ufrnet.br
Paulo CardieriAssociate Professor of Electrical Engineering, State University of CampinasZweryfikowany adres z decom.fee.unicamp.br
Juliano João BazzoTechnical Manager, Samsung SIDIA R&D CenterZweryfikowany adres z sidia.com
Rafhael AmorimNokia Bell LabsZweryfikowany adres z nokia-bell-labs.com