Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 3601 | 1607 |
h-indeks | 35 | 20 |
i10-indeks | 82 | 48 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko11 artykułów
7 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Patrice GONONLTM / Université Grenoble Alpes (UGA)Zweryfikowany adres z cea.fr
- Antoine GOULLETNantes Université, IMNZweryfikowany adres z univ-nantes.fr
- Christophe DurandAsso. Professor-HDR, Université Grenoble Alpes, CEA, IRIG, PHELIQS-NPSCZweryfikowany adres z cea.fr
- Corentin JorelAssistant professor of instrumentation, Caen UniversityZweryfikowany adres z ensicaen.fr
- PossemeZweryfikowany adres z cea.fr
- Alain SYLVESTREProfesseur, Université Grenoble Alpes, Grenoble Electrical Engineering Laboratory (G2Elab)Zweryfikowany adres z g2elab.grenoble-inp.fr
- FLECHETprofesseur electronique, université de SavoieZweryfikowany adres z univ-savoie.fr
- Laurence Latu-RomainMaître de conférences, Université Grenoble AlpesZweryfikowany adres z univ-grenoble-alpes.fr
- Fabien PiallatPicosunZweryfikowany adres z picosun.com
- Etienne GheeraertInstitut Néel, University of Grenoble AlpesZweryfikowany adres z neel.cnrs.fr
- olivier joubertdirecteur de recherche cnrs, grenobleZweryfikowany adres z cea.fr
- Julien BuckleyCEA-LETIZweryfikowany adres z cea.fr
- Besland M-PDR CNRS IMN NantesZweryfikowany adres z cnrs-imn.fr
- Emmanuel DefayLuxembourg Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z list.lu
- caroline rabotTyndall National InstituteZweryfikowany adres z tyndall.ie
- Christian WengerIHP GmbH - Leibniz institute for innovative microelectronicsZweryfikowany adres z ihp-microelectronics.com
- Anne-Claire SalaunUniversité de Rennes1 FranceZweryfikowany adres z univ-rennes1.fr
- Thomas SchroederLeibniz-Institut für Kristallzüchtung (IKZ); Professor in Physics at Humboldt Universität zu BerlinZweryfikowany adres z ikz-berlin.de
- Vena ArnaudAssociate Professor, Université de MontpellierZweryfikowany adres z umontpellier.fr
- smail tedjiniGrenoble-inp/LCISZweryfikowany adres z ieee.org