Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 5994 | 3488 |
h-indeks | 40 | 34 |
i10-indeks | 80 | 70 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko9 artykułów
6 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Eric StachDepartment of Materials Science and Engineering, University of PennsylvaniaZweryfikowany adres z seas.upenn.edu
- Kyung Yoon ChungKorea Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z kist.re.kr
- Junbeom ParkPostdoctoral researcher, Fundamental Electrochemistry (IEK-9), Forschungszentrum JülichZweryfikowany adres z fz-juelich.de
- Hyeonsu JeongKorea Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z kist.re.kr
- Benji MaruyamaAir Force Research LaboratoryZweryfikowany adres z us.af.mil
- Jaehoon KimSungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
- Cary PintCharles Schafer (Battelle) Chair in Engineering & Associate Professor, Iowa State UniversityZweryfikowany adres z iastate.edu
- Placidus B. AmamaProfessor of Chemical Engineering, Kansas State UniversityZweryfikowany adres z ksu.edu
- Jaegeun LeeAssociate professor, Pusan National UniversityZweryfikowany adres z pusan.ac.kr
- Dong-Myeong LeeKorea Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z kist.re.kr
- Dmitri ZakharovStaff Scientist, Brookhaven National LaboratoryZweryfikowany adres z bnl.gov
- Young-Kwan KimDongguk UniversityZweryfikowany adres z dongguk.edu
- Kun-Hong LeeProfessor of chemical engineering, pohang university of science and technologyZweryfikowany adres z postech.ac.kr
- Fabio H. RibeiroPurdue UniversityZweryfikowany adres z purdue.edu
- Sunkook KimDept. of Advanced Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan Universty (SKKU)Zweryfikowany adres z skku.edu
- Eunmi JoSamsung SDIZweryfikowany adres z samsung.com