Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 1135 | 979 |
h-indeks | 13 | 11 |
i10-indeks | 14 | 13 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko8 artykułów
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Minghao QiPurdue UniversityZweryfikowany adres z purdue.edu
- Andrew M. WeinerProfessor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityZweryfikowany adres z purdue.edu
- Yi XUANUniversity of Pittsburgh, School of MedicineZweryfikowany adres z pitt.edu
- Sangsik KimAssociate Professor of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and TechnologyZweryfikowany adres z kaist.ac.kr
- Jose Jaramillo-VillegasPurdue University, Universidad Tecnológica de PereiraZweryfikowany adres z utp.edu.co
- Min TengimecZweryfikowany adres z imec-int.com
- Abdullah Al NomanFailure Analysis R&D Engineer at Intel CorporationZweryfikowany adres z intel.com
- Victor YurlovPrincipal Engineer of Samsung Electromechanics (Optics, MEMS, ISP)Zweryfikowany adres z samsung.com
- Vladimir A. AksyukProject Leader, Physical Measurement Laboratory, NISTZweryfikowany adres z nist.gov
- Thomas LeBrunGroup Leader for Photonics and Optomechanics, NISTZweryfikowany adres z nist.gov
- Junyeob SongNational Institute of Standards and Technology & University of DelawareZweryfikowany adres z NIST.GOV
- David LongNational Institute of Standards and TechnologyZweryfikowany adres z nist.gov
- Nan Ei Yu (N. E. Yu)Gwngju Institute of Science and Technology (GIST)Zweryfikowany adres z gist.ac.kr