Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2019 | |
---|---|---|
Cytowania | 5704 | 2648 |
h-indeks | 35 | 25 |
i10-indeks | 118 | 71 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko41 artykułów
26 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
- Florian RoemerFraunhofer Institute for Nondestructive Testing IZFP; TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Reiner S. ThomäTU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Martin HaardtUniversity Professor, TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Oliver ThiergartFraunhofer IISZweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de
- Markus LandmannDepartment Head EMS, Fraunhofer IISZweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de
- Christian SchneiderGroup Leader and Senior Researcher, Technische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- João Paulo Javidi da CostaHamm-Lippstadt University of Applied SciencesZweryfikowany adres z hshl.de
- Ville PulkkiProfessor (full), Aalto UniversityZweryfikowany adres z aalto.fi
- Diego DupleichTechnische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Emanuël HabetsInternational Audio Laboratories Erlangen, GermanyZweryfikowany adres z ieee.org
- Anastasia LavrenkoAssistant Professor, University of TwenteZweryfikowany adres z utwente.nl
- Mohamed IbrahimPostdoctoral Researcher, DFKIZweryfikowany adres z dfki.de
- Christopher SchirmerTechnische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Pekka KyöstiKeysight Technologies Finland oyZweryfikowany adres z keysight.com
- Sebastian SemperPost-Doc, TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Sergii SkoblikovTU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Daniela LaselvaNokia Bell LabsZweryfikowany adres z nokia.com
- Jan KirchhofTechnische Universität Ilmenau, Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverferfahren IZFPZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
- Maja TaseskaHarman InternationalZweryfikowany adres z harman.com
- Steffen SchielerElectronic Measurements and Signal Processing Lab, Techische Universitaet IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Obserwuj
Giovanni Del Galdo
Professor for Electronic Measurements and Signal Processing, Technische Universität Ilmenau
Zweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de - Strona główna