Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2018 | |
---|---|---|
Cytowania | 5471 | 2911 |
h-indeks | 34 | 26 |
i10-indeks | 115 | 75 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko38 artykułów
28 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Florian RoemerFraunhofer Institute for Nondestructive Testing IZFP; TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Reiner S. ThomäTU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Martin HaardtUniversity Professor, TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Oliver ThiergartFraunhofer IISZweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de
Christian SchneiderGroup Leader and Senior Researcher, Technische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Ville PulkkiProfessor (full), Aalto UniversityZweryfikowany adres z aalto.fi
Diego DupleichTechnische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Emanuël HabetsInternational Audio Laboratories Erlangen, GermanyZweryfikowany adres z ieee.org
Anastasia LavrenkoAssistant Professor, University of TwenteZweryfikowany adres z utwente.nl
Christopher SchirmerTechnische Universität IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Pekka KyöstiKeysight Technologies Finland oyZweryfikowany adres z keysight.com
Sebastian SemperPost-Doc, TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Sergii SkoblikovTU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Jan KirchhofTechnische Universität Ilmenau, Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverferfahren IZFPZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Maja TaseskaMicrosoftZweryfikowany adres z microsoft.com
Mikko-Ville LaitinenResearcher, Aalto UniversityZweryfikowany adres z aalto.fi
Nicolai CzinkZweryfikowany adres z ieee.org
Ahmad OsmanProfessor for Sensor Technologies, Signal and Image ProcessingZweryfikowany adres z izfp.fraunhofer.de
Gregor SiegertGerman Aerospace CenterZweryfikowany adres z dlr.de
Jorg LotzeCTO at XceleritZweryfikowany adres z xcelerit.com
Obserwuj
Giovanni Del Galdo
Professor for Electronic Measurements and Signal Processing, Technische Universität Ilmenau
Zweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de - Strona główna